IMetricCollector
public
interface
IMetricCollector
implements
IDisableable,
ILogSaverListener
| com.android.tradefed.device.metric.IMetricCollector |
回報測試結果時,這個介面會以裝飾器形式新增,以便收集相符的指標。
即使這個介面會擴充 ITestInvocationListener,也無法做為
收集器不應保留內部狀態,因為收集器可能會在多個位置重複使用。如果真的必須使用內部狀態,則應在 init(IInvocationContext,ITestInvocationListener) 上清除。
摘要
公用方法 | |
|---|---|
default
boolean
|
captureModuleLevel()
收集器是否適用於模組層級擷取,且應初始化。 |
default
boolean
|
doesModuleContainFailure()
如果目前模組包含任何測試案例或測試執行失敗,則傳回 true。 |
default
void
|
enableDefaultMetricCollection()
允許收集器啟用預設指標收集功能。 |
default
IMetricCollector.MetricCollectionLevel
|
getAlwaysOnCollectionLevel()
|
abstract
List<IBuildInfo>
|
getBuildInfos()
傳回可供呼叫使用的建構資訊清單。 |
abstract
List<ITestDevice>
|
getDevices()
傳回呼叫中可用的裝置清單。 |
abstract
ITestInvocationListener
|
getInvocationListener()
傳回轉送結果的原始 |
default
IMetricCollector.MetricCollectionLevel
|
getOnFailureCollectionLevel()
|
abstract
ITestInvocationListener
|
init(IInvocationContext context, ITestInvocationListener listener)
使用目前環境初始化收集器,並指定轉送結果的位置。 |
default
boolean
|
isDefaultMetricCollectionEnabled()
收集器是否正在收集指標,做為預設指標收集作業的一部分。 |
abstract
void
|
onTestAssumptionFailure(DeviceMetricData testData, TestDescription test)
測試案例因假設失敗而失敗時的回呼。 |
abstract
void
|
onTestEnd(DeviceMetricData testData, Map<String, MetricMeasurement.Metric> currentTestCaseMetrics, TestDescription test)
測試案例結束時的回呼。 |
abstract
void
|
onTestEnd(DeviceMetricData testData, Map<String, MetricMeasurement.Metric> currentTestCaseMetrics)
測試案例結束時的回呼。 |
abstract
void
|
onTestFail(DeviceMetricData testData, TestDescription test)
測試案例失敗時的回呼。 |
default
void
|
onTestModuleEnded()
允許擷取模組結束事件。 |
default
void
|
onTestModuleStarted()
允許擷取模組啟動事件。 |
abstract
void
|
onTestRunEnd(DeviceMetricData runData, Map<String, MetricMeasurement.Metric> currentRunMetrics)
測試作業結束時的回呼。 |
abstract
void
|
onTestRunStart(DeviceMetricData runData)
測試執行開始時的回呼。 |
default
void
|
onTestRunStart(DeviceMetricData runData, int testCount)
測試執行開始時的回呼。 |
default
void
|
onTestRunStartBlocking()
Explicit callback to start a collector manually if it supports it. |
abstract
void
|
onTestStart(DeviceMetricData testData)
測試案例啟動時的回呼。 |
default
void
|
setAlwaysOnCollectionLevel(IMetricCollector.MetricCollectionLevel level)
設定收集器應收集記錄的層級,無論是否發生失敗。 |
default
void
|
setModuleContainsFailure()
設定模組是否有任何失敗 (測試案例、測試執行)。 |
default
void
|
setOnFailureCollectionLevel(IMetricCollector.MetricCollectionLevel level)
Sets the level at which the collector should collect logs during failures. |
公用方法
captureModuleLevel
public boolean captureModuleLevel ()
收集器是否適用於模組層級擷取,且應進行初始化。
| 傳回 | |
|---|---|
boolean |
|
doesModuleContainFailure
public boolean doesModuleContainFailure ()
如果目前模組包含任何測試案例或測試執行失敗,則傳回 true。
| 傳回 | |
|---|---|
boolean |
|
enableDefaultMetricCollection
public void enableDefaultMetricCollection ()
允許收集器啟用預設指標收集功能。啟用預設指標收集功能後,收集器應只在指定的收集層級收集資料。
getAlwaysOnCollectionLevel
public IMetricCollector.MetricCollectionLevel getAlwaysOnCollectionLevel ()
| 傳回 | |
|---|---|
IMetricCollector.MetricCollectionLevel |
|
getBuildInfos
public abstract List<IBuildInfo> getBuildInfos ()
傳回可供呼叫使用的建構資訊清單。
| 傳回 | |
|---|---|
List<IBuildInfo> |
|
getInvocationListener
public abstract ITestInvocationListener getInvocationListener ()
傳回要轉送結果的原始 ITestInvocationListener。
| 傳回 | |
|---|---|
ITestInvocationListener |
|
getOnFailureCollectionLevel
public IMetricCollector.MetricCollectionLevel getOnFailureCollectionLevel ()
| 傳回 | |
|---|---|
IMetricCollector.MetricCollectionLevel |
|
init
public abstract ITestInvocationListener init (IInvocationContext context, ITestInvocationListener listener)
使用目前環境初始化收集器,並指定轉送結果的位置。每個執行個體只會呼叫一次,收集器應更新其內部環境和接聽程式。在測試執行期間,系統一律不會呼叫 Init,而是會先呼叫。
除非您知道自己在做什麼,否則請勿覆寫。
| 參數 | |
|---|---|
context |
IInvocationContext:正在進行的呼叫的 IInvocationContext。 |
listener |
ITestInvocationListener:要放置結果的 ITestInvocationListener。 |
| 傳回 | |
|---|---|
ITestInvocationListener |
新監聽器包裝原始監聽器。 |
| 擲回 | |
|---|---|
DeviceNotAvailableException |
|
isDefaultMetricCollectionEnabled
public boolean isDefaultMetricCollectionEnabled ()
收集器是否正在收集指標,做為預設指標收集作業的一部分。
| 傳回 | |
|---|---|
boolean |
|
onTestAssumptionFailure
public abstract void onTestAssumptionFailure (DeviceMetricData testData, TestDescription test)
測試案例因假設失敗而失敗時的回呼。
| 參數 | |
|---|---|
testData |
DeviceMetricData:保存測試案例資料的 DeviceMetricData。 |
test |
TestDescription:進行中測試案例的 TestDescription。 |
| 擲回 | |
|---|---|
DeviceNotAvailableException |
|
onTestEnd
public abstract void onTestEnd (DeviceMetricData testData, Map<String, MetricMeasurement.Metric> currentTestCaseMetrics, TestDescription test)
測試案例結束時的回呼。這時應進行清理。
| 參數 | |
|---|---|
testData |
DeviceMetricData:保存測試案例資料的 DeviceMetricData。與 onTestStart(DeviceMetricData) 期間的物件相同。 |
currentTestCaseMetrics |
Map:傳遞至 testEnded(TestDescription,Map) 的指標目前對應。 |
test |
TestDescription:進行中測試案例的 TestDescription。 |
| 擲回 | |
|---|---|
DeviceNotAvailableException |
|
onTestEnd
public abstract void onTestEnd (DeviceMetricData testData, Map<String, MetricMeasurement.Metric> currentTestCaseMetrics)
測試案例結束時的回呼。這時應進行清理。
| 參數 | |
|---|---|
testData |
DeviceMetricData:保存測試案例資料的 DeviceMetricData。與 onTestStart(DeviceMetricData) 期間的物件相同。 |
currentTestCaseMetrics |
Map:傳遞至 testEnded(TestDescription,Map) 的指標目前對應。 |
| 擲回 | |
|---|---|
DeviceNotAvailableException |
|
onTestFail
public abstract void onTestFail (DeviceMetricData testData, TestDescription test)
測試案例失敗時的回呼。
| 參數 | |
|---|---|
testData |
DeviceMetricData:保存測試案例資料的 DeviceMetricData。 |
test |
TestDescription:進行中測試案例的 TestDescription。 |
| 擲回 | |
|---|---|
DeviceNotAvailableException |
|
onTestModuleEnded
public void onTestModuleEnded ()
允許擷取模組結束事件。
| 擲回 | |
|---|---|
|
com.android.tradefed.device.DeviceNotAvailableException |
DeviceNotAvailableException |
|
onTestModuleStarted
public void onTestModuleStarted ()
允許擷取模組啟動事件。
| 擲回 | |
|---|---|
|
com.android.tradefed.device.DeviceNotAvailableException |
DeviceNotAvailableException |
|
onTestRunEnd
public abstract void onTestRunEnd (DeviceMetricData runData, Map<String, MetricMeasurement.Metric> currentRunMetrics)
測試作業結束時的回呼。這時應進行清理。
| 參數 | |
|---|---|
runData |
DeviceMetricData:DeviceMetricData,其中包含執行作業的資料。與 onTestRunStart(DeviceMetricData) 期間的物件相同。 |
currentRunMetrics |
Map:傳遞至 testRunEnded(long,Map) 的指標目前對應。 |
| 擲回 | |
|---|---|
DeviceNotAvailableException |
|
onTestRunStart
public abstract void onTestRunStart (DeviceMetricData runData)
測試執行開始時的回呼。
| 參數 | |
|---|---|
runData |
DeviceMetricData:DeviceMetricData,其中包含執行作業的資料。 |
| 擲回 | |
|---|---|
DeviceNotAvailableException |
|
onTestRunStart
public void onTestRunStart (DeviceMetricData runData, int testCount)
測試執行開始時的回呼。
| 參數 | |
|---|---|
runData |
DeviceMetricData:DeviceMetricData,其中包含執行作業的資料。 |
testCount |
int:這項測試執行作業中的測試案例數量。 |
| 擲回 | |
|---|---|
DeviceNotAvailableException |
|
onTestRunStartBlocking
public void onTestRunStartBlocking ()
如果收集器支援,可明確回呼以手動啟動收集器。這可確保我們已脫離某些非同步測試生命週期。
| 擲回 | |
|---|---|
|
com.android.tradefed.device.DeviceNotAvailableException |
DeviceNotAvailableException |
|
onTestStart
public abstract void onTestStart (DeviceMetricData testData)
測試案例啟動時的回呼。
| 參數 | |
|---|---|
testData |
DeviceMetricData:保存測試案例資料的 DeviceMetricData。 |
| 擲回 | |
|---|---|
DeviceNotAvailableException |
|
setAlwaysOnCollectionLevel
public void setAlwaysOnCollectionLevel (IMetricCollector.MetricCollectionLevel level)
設定收集器應收集記錄的層級,無論是否發生故障。
如果層級為 NULL,系統就不會收集資料。
| 參數 | |
|---|---|
level |
IMetricCollector.MetricCollectionLevel:收集記錄的 MetricCollectionLevel。 |
setModuleContainsFailure
public void setModuleContainsFailure ()
設定模組是否有任何失敗 (測試案例、測試執行)。
setOnFailureCollectionLevel
public void setOnFailureCollectionLevel (IMetricCollector.MetricCollectionLevel level)
設定收集器在發生失敗時應收集記錄的層級。
如果層級為 NULL,系統就不會收集資料。
| 參數 | |
|---|---|
level |
IMetricCollector.MetricCollectionLevel:收集記錄的 MetricCollectionLevel。 |