IMetricCollector
public interface IMetricCollector
implements ILogSaverListener , IDisableable
com.android.tradefed.device.metric.IMetricCollector |
このインターフェースは、一致するメトリックを収集するためにテスト結果を報告するときにデコレーターとして追加されます。
このインターフェイスは、 コレクターは、いくつかの場所で再利用される可能性があるため、内部状態を保持することは想定されていません。内部状態を実際に使用する必要がある場合は、 コレクタがモジュール レベルのキャプチャに適用可能であり、初期化する必要があるかどうか。 呼び出しで利用可能なビルド情報のリストを返します。 呼び出しで使用可能なデバイスのリストを返します。 結果を転送する元の 現在のコンテキストと結果の転送先を使用したコレクターの初期化。 テスト ケースが仮定エラーで失敗した場合のコールバック。 テストケース終了時のコールバック。 テストケース終了時のコールバック。 テスト ケースが失敗したときのコールバック。 モジュール終了イベントのキャプチャを許可します。 モジュール開始イベントのキャプチャーを許可します。 テスト実行が終了したときのコールバック。 テスト実行開始時のコールバック。 テスト実行開始時のコールバック。 テストケース開始時のコールバック。 コレクタがモジュール レベルのキャプチャに適用可能であり、初期化する必要があるかどうか。 呼び出しで利用可能なビルド情報のリストを返します。 呼び出しで使用可能なデバイスのリストを返します。 結果を転送する元の 現在のコンテキストと結果の転送先を使用したコレクターの初期化。インスタンスごとに 1 回だけ呼び出され、コレクターはその内部コンテキストとリスナーを更新することが期待されます。 Init は、テスト実行中に常に呼び出されることはありません。 自分が何をしているのかわからない限り、上書きしないでください。 テスト ケースが仮定エラーで失敗した場合のコールバック。 テストケース終了時のコールバック。これは、クリーンアップの時間である必要があります。 テストケース終了時のコールバック。これは、クリーンアップの時間である必要があります。 テスト ケースが失敗したときのコールバック。 モジュール終了イベントのキャプチャを許可します。 モジュール開始イベントのキャプチャーを許可します。 テスト実行が終了したときのコールバック。これは、クリーンアップの時間である必要があります。 テスト実行開始時のコールバック。 テスト実行開始時のコールバック。 テストケース開始時のコールバック。ITestInvocationListener
を拡張します。構成チェックはそれを拒否します。 「metrics_collector」として使用する必要があります。init(com.android.tradefed.invoker.IInvocationContext, com.android.tradefed.result.ITestInvocationListener)
で消去する必要があります。まとめ
公開メソッド
default boolean
captureModuleLevel ()
abstract
getBuildInfos ()
abstract
getDevices ()
abstract ITestInvocationListener
getInvocationListener ()
ITestInvocationListener
を返します。 abstract ITestInvocationListener
init ( IInvocationContext context, ITestInvocationListener listener)
abstract void
onTestAssumptionFailure ( DeviceMetricData testData, TestDescription test)
abstract void
onTestEnd ( DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics, TestDescription test)
onTestEnd ( DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics, TestDescription test)
abstract void
onTestEnd ( DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics)
onTestEnd ( DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics)
abstract void
onTestFail ( DeviceMetricData testData, TestDescription test)
default void
onTestModuleEnded ()
default void
onTestModuleStarted ()
abstract void
onTestRunEnd ( DeviceMetricData runData, currentRunMetrics)
onTestRunEnd ( DeviceMetricData runData, currentRunMetrics)
abstract void
onTestRunStart ( DeviceMetricData runData)
default void
onTestRunStart ( DeviceMetricData runData, int testCount)
abstract void
onTestStart ( DeviceMetricData testData)
公開メソッド
CaptureModuleLevel
public boolean captureModuleLevel ()
戻り値 boolean
getBuildInfos
public abstract
戻り値 getDevices
public abstract
戻り値 getInvocationListener
public abstract ITestInvocationListener getInvocationListener ()
ITestInvocationListener
を返します。戻り値 ITestInvocationListener
初期化
public abstract ITestInvocationListener init (IInvocationContext context,
ITestInvocationListener listener)
パラメーター context
IInvocationContext
: 進行中の呼び出しのIInvocationContext
。 listener
ITestInvocationListener
: 結果を配置するITestInvocationListener
。戻り値 ITestInvocationListener
元のリスナーをラップする新しいリスナー。 スロー DeviceNotAvailableException
onTestAssumptionFailure
public abstract void onTestAssumptionFailure (DeviceMetricData testData,
TestDescription test)
パラメーター testData
DeviceMetricData
: テスト ケースのデータを保持するDeviceMetricData
。 test
TestDescription
: 進行中のテスト ケースのTestDescription
。スロー DeviceNotAvailableException
onTestEnd
public abstract void onTestEnd (DeviceMetricData testData,
パラメーター testData
DeviceMetricData
: テスト ケースのデータを保持するDeviceMetricData
。 onTestStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)
中と同じオブジェクトになります。 currentTestCaseMetrics
ERROR(/#testEnded(com.android.tradefed.result.TestDescription,Map))
に渡されるメトリックの現在のマップ。 test
TestDescription
: 進行中のテスト ケースのTestDescription
。スロー DeviceNotAvailableException
onTestEnd
public abstract void onTestEnd (DeviceMetricData testData,
パラメーター testData
DeviceMetricData
: テスト ケースのデータを保持するDeviceMetricData
。 onTestStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)
中と同じオブジェクトになります。 currentTestCaseMetrics
ERROR(/#testEnded(com.android.tradefed.result.TestDescription,Map))
に渡されるメトリックの現在のマップ。スロー DeviceNotAvailableException
onTestFail
public abstract void onTestFail (DeviceMetricData testData,
TestDescription test)
パラメーター testData
DeviceMetricData
: テスト ケースのデータを保持するDeviceMetricData
。 test
TestDescription
: 進行中のテスト ケースのTestDescription
。スロー DeviceNotAvailableException
onTestModuleEnded
public void onTestModuleEnded ()
スロー com.android.tradefed.device.DeviceNotAvailableException DeviceNotAvailableException
onTestModuleStarted
public void onTestModuleStarted ()
スロー com.android.tradefed.device.DeviceNotAvailableException DeviceNotAvailableException
onTestRunEnd
public abstract void onTestRunEnd (DeviceMetricData runData,
パラメーター runData
DeviceMetricData
: 実行のデータを保持するDeviceMetricData
。 onTestRunStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)
中と同じオブジェクトになります。 currentRunMetrics
ERROR(/#testRunEnded(long,Map))
に渡されたメトリックの現在のマップ。スロー DeviceNotAvailableException
onTestRunStart
public abstract void onTestRunStart (DeviceMetricData runData)
パラメーター runData
DeviceMetricData
: 実行のデータを保持するDeviceMetricData
。スロー DeviceNotAvailableException
onTestRunStart
public void onTestRunStart (DeviceMetricData runData,
int testCount)
パラメーター runData
DeviceMetricData
: 実行のデータを保持するDeviceMetricData
。 testCount
int
: このテスト実行でのテスト ケースの数。スロー DeviceNotAvailableException
onTestStart
public abstract void onTestStart (DeviceMetricData testData)
パラメーター testData
DeviceMetricData
: テスト ケースのデータを保持するDeviceMetricData
。スロー DeviceNotAvailableException