LogcatOnFailureCollector

public class LogcatOnFailureCollector
extends BaseDeviceMetricCollector

java.lang.Object
😎 com.android.tradefed.device.metric.BaseDeviceMetricCollector
  😎 com.android.tradefed.device.metric.LogcatOnFailureCollector


Collector, der einen Logcat erfasst und protokolliert, wenn ein Testfall fehlschlägt.

Zusammenfassung

Öffentliche Konstruktoren

LogcatOnFailureCollector()

Öffentliche Methoden

void onTestFail(DeviceMetricData testData, TestDescription test)

Callback, wenn ein Testlauf fehlschlägt.

void onTestRunEnd(DeviceMetricData runData, currentRunMetrics)

Callback beim Beenden eines Testlaufs.

void onTestRunFailed(DeviceMetricData testData, FailureDescription failure)

Callback für testRunFailed-Ereignisse

void onTestRunStart(DeviceMetricData runData)

Callback beim Starten eines Testlaufs.

void onTestStart(DeviceMetricData testData)

Callback zum Starten eines Testlaufs.

Geschützte Methoden

void collectAndLog(String testName, int size)

Öffentliche Konstruktoren

LogcatOnFailureCollector

public LogcatOnFailureCollector ()

Öffentliche Methoden

onTestFail

public void onTestFail (DeviceMetricData testData, 
                TestDescription test)

Callback, wenn ein Testlauf fehlschlägt.

Parameter
testData DeviceMetricData: DeviceMetricData, die die Daten für den Testlauf enthält.

test TestDescription: TestDescription des laufenden Testlaufs.

Ausgabe
DeviceNotAvailableException

beiTestlaufEnde

public void onTestRunEnd (DeviceMetricData runData, 
                 currentRunMetrics)

Callback beim Beenden eines Testlaufs. Dies sollte der Zeitpunkt für die Bereinigung sein.

Parameter
runData DeviceMetricData: Die DeviceMetricData, die die Daten für die Ausführung enthält. Wird nicht geändert wie bei onTestRunStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData).

currentRunMetrics : die aktuelle Zuordnung der Messwerte, die an ERROR(/#testRunEnded(long,Map)) übergeben wurden.

onTestRunFailed (onTestRunFailed)

public void onTestRunFailed (DeviceMetricData testData, 
                FailureDescription failure)

Callback für testRunFailed-Ereignisse

Ausgabe
DeviceNotAvailableException

beiTestlaufStart

public void onTestRunStart (DeviceMetricData runData)

Callback beim Starten eines Testlaufs.

Parameter
runData DeviceMetricData: Die DeviceMetricData, die die Daten für die Ausführung enthält.

beiTestStart

public void onTestStart (DeviceMetricData testData)

Callback zum Starten eines Testlaufs.

Parameter
testData DeviceMetricData: DeviceMetricData, die die Daten für den Testlauf enthält.

Geschützte Methoden

collectAndLog

protected void collectAndLog (String testName, 
                int size)

Parameter
testName String

size int

Ausgabe
DeviceNotAvailableException