透過集合功能整理內容 你可以依據偏好儲存及分類內容。

ITargetPreparer

public interface ITargetPreparer
implements IDisableable

com.android.tradefed.targetprep.ITargetPreparer


為測試運行準備測試環境。

例如,安裝軟件、調整環境設置以進行測試、啟動目標等。

請注意,可以在配置中指定多個ITargetPreparer 。建議每個 ITargetPreparer 清楚地記錄其預期的環境預設置和設置後。例如,配置測試設備的 ITargetPreparer 必須在安裝軟件的 ITargetPreparer 之後運行。

概括

公共方法

default void setUp (ITestDevice device, IBuildInfo buildInfo)

此方法已棄用。改用setUp(com.android.tradefed.invoker.TestInformation)

default void setUp (TestInformation testInformation)

執行目標設置以進行測試。

default void tearDown (TestInformation testInformation, Throwable e)

測試後執行目標清理/拆卸。

default void tearDown (ITestDevice device, IBuildInfo buildInfo, Throwable e)

此方法已棄用。改用tearDown(com.android.tradefed.invoker.TestInformation, Throwable)

公共方法

設置

public void setUp (ITestDevice device, 
                IBuildInfo buildInfo)

此方法已棄用。
改用setUp(com.android.tradefed.invoker.TestInformation)

執行目標設置以進行測試。

參數
device ITestDevice :要準備的ITestDevice

buildInfo IBuildInfo :關於被測構建的數據。

投擲
TargetSetupError如果設置環境發生致命錯誤
BuildError如果發生與 BuildInfo 相關的錯誤
DeviceNotAvailableException如果設備變得無響應

設置

public void setUp (TestInformation testInformation)

執行目標設置以進行測試。

參數
testInformation TestInformation :調用的TestInformation

投擲
TargetSetupError如果設置環境發生致命錯誤
BuildError如果由於正在準備構建而發生錯誤
DeviceNotAvailableException如果設備變得無響應

拆除

public void tearDown (TestInformation testInformation, 
                Throwable e)

測試後執行目標清理/拆卸。

參數
testInformation TestInformation :調用的TestInformation

e Throwable :如果調用以異常結束,這將是在調用級別捕獲的異常。否則,將為null

投擲
DeviceNotAvailableException如果設備變得無響應

拆除

public void tearDown (ITestDevice device, 
                IBuildInfo buildInfo, 
                Throwable e)

此方法已棄用。
改用tearDown(com.android.tradefed.invoker.TestInformation, Throwable)

測試後執行目標清理/拆卸。

參數
device ITestDevice :要準備的ITestDevice

buildInfo IBuildInfo :關於被測構建的數據。

e Throwable :如果調用以異常結束,這將是在調用級別捕獲的異常。否則,將為null

投擲
DeviceNotAvailableException如果設備變得無響應