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自动收集有关失败的日志

调试测试时,始终需要一组日志,以便大致了解失败和被测设备的情况。日志来源包括:Logcat、Tradefed 主机日志、屏幕截图等。

为了让这些日志通用并让所有测试编写人员都可以轻松获取,Tradefed 内置了一种机制来帮助收集。

配置

要自动收集有关失败的部分日志,您可以将以下选项添加到 Tradefed 命令行中:

--auto-collect LOGCAT_ON_FAILURE
or
--auto-collect SCREENSHOT_ON_FAILURE

要查看可能值的完整列表,请参阅 AutoLogCollector

为方便起见,logcat 和屏幕截图各有一个直观的标记:

--logcat-on-failure
and
--screenshot-on-failure

有关套件模块的说明 (AndroidTest.xml)

模块不能在 AndroidTest.xml 中直接指定此选项,但它们可以改为使用模块控制器