จัดทุกอย่างให้เป็นระเบียบอยู่เสมอด้วยคอลเล็กชัน บันทึกและจัดหมวดหมู่เนื้อหาตามค่ากำหนดของคุณ

ITargetPreparer

public interface ITargetPreparer
implements IDisableable

com.android.tradefed.targetprep.ITargetPreparer

เตรียมสภาพแวดล้อมการทดสอบสำหรับการทดสอบรัน

ตัวอย่างเช่น ติดตั้งซอฟต์แวร์ ปรับแต่งการตั้งค่า env สำหรับการทดสอบ เปิดตัวเป้าหมาย ฯลฯ

โปรดทราบว่าสามารถระบุ ITargetPreparer ได้หลายรายการในการกำหนดค่า ขอแนะนำให้ ITargetPreparer แต่ละรายจัดทำเอกสารที่ชัดเจนเกี่ยวกับการตั้งค่าล่วงหน้าและหลังการตั้งค่าสภาพแวดล้อมที่คาดไว้ เช่น ITargetPreparer ที่กำหนดค่าอุปกรณ์สำหรับการทดสอบจะต้องทำงานหลังจาก ITargetPreparer ที่ติดตั้งซอฟต์แวร์

สรุป

วิธีการสาธารณะ

default void setUp ( ITestDevice device, IBuildInfo buildInfo)

วิธีนี้เลิกใช้แล้ว ใช้ setUp(com.android.tradefed.invoker.TestInformation) แทน

default void setUp ( TestInformation testInformation)

ดำเนินการตั้งค่าเป้าหมายสำหรับการทดสอบ

default void tearDown ( TestInformation testInformation, Throwable e)

ดำเนินการล้าง/ทำลายเป้าหมายหลังการทดสอบ

default void tearDown ( ITestDevice device, IBuildInfo buildInfo, Throwable e)

วิธีนี้เลิกใช้แล้ว ใช้ tearDown(com.android.tradefed.invoker.TestInformation, Throwable) แทน

วิธีการสาธารณะ

ติดตั้ง

public void setUp (ITestDevice device, 
                IBuildInfo buildInfo)

วิธีนี้เลิกใช้แล้ว
ใช้ setUp(com.android.tradefed.invoker.TestInformation) แทน

ดำเนินการตั้งค่าเป้าหมายสำหรับการทดสอบ

พารามิเตอร์
device ITestDevice : ITestDevice ที่ต้องเตรียม

buildInfo IBuildInfo : ข้อมูลเกี่ยวกับบิลด์ที่อยู่ระหว่างการทดสอบ

ขว้าง
TargetSetupError หากเกิดข้อผิดพลาดร้ายแรงในการตั้งค่าสภาพแวดล้อม
BuildError หากเกิดข้อผิดพลาดเกี่ยวกับ BuildInfo
DeviceNotAvailableException หากอุปกรณ์ไม่ตอบสนอง

ติดตั้ง

public void setUp (TestInformation testInformation)

ดำเนินการตั้งค่าเป้าหมายสำหรับการทดสอบ

พารามิเตอร์
testInformation TestInformation : TestInformation ของการเรียก

ขว้าง
TargetSetupError หากเกิดข้อผิดพลาดร้ายแรงในการตั้งค่าสภาพแวดล้อม
BuildError หากเกิดข้อผิดพลาดเนื่องจากกำลังเตรียมบิลด์
DeviceNotAvailableException หากอุปกรณ์ไม่ตอบสนอง

การถอดออก

public void tearDown (TestInformation testInformation, 
                Throwable e)

ดำเนินการล้าง/ทำลายเป้าหมายหลังการทดสอบ

พารามิเตอร์
testInformation TestInformation : TestInformation ของการเรียก

e Throwable : หากการเรียกใช้จบลงด้วยข้อยกเว้น จะเป็นข้อยกเว้นที่ตรวจพบที่ระดับ Invocation มิฉะนั้นจะเป็น null

ขว้าง
DeviceNotAvailableException หากอุปกรณ์ไม่ตอบสนอง

การถอดออก

public void tearDown (ITestDevice device, 
                IBuildInfo buildInfo, 
                Throwable e)

วิธีนี้เลิกใช้แล้ว
ใช้ tearDown(com.android.tradefed.invoker.TestInformation, Throwable) แทน

ดำเนินการล้าง/ทำลายเป้าหมายหลังการทดสอบ

พารามิเตอร์
device ITestDevice : ITestDevice ที่ต้องเตรียม

buildInfo IBuildInfo : ข้อมูลเกี่ยวกับบิลด์ที่อยู่ระหว่างการทดสอบ

e Throwable : หากการเรียกใช้จบลงด้วยข้อยกเว้น จะเป็นข้อยกเว้นที่ตรวจพบที่ระดับ Invocation มิฉะนั้นจะเป็น null

ขว้าง
DeviceNotAvailableException หากอุปกรณ์ไม่ตอบสนอง