Начиная с 27 марта 2025 г. мы рекомендуем использовать android-latest-release
вместо aosp-main
для создания и участия в AOSP. Дополнительные сведения см. в разделе Изменения в AOSP .
Параметризованный GTest для тестирования HAL
Оптимизируйте свои подборки
Сохраняйте и классифицируйте контент в соответствии со своими настройками.
Для интерфейса HAL может быть несколько реализаций. Для проверки каждого экземпляра на реализацию HAL стандартным способом является написание GTest с параметризацией значения .
Базовая настройка теста
GTest должен наследовать базовый класс testing::TestWithParam
, параметром которого является имя каждого экземпляра. В методе SetUp
служба может быть создана на основе имени экземпляра, как показано в следующем фрагменте кода.
// The main test class for the USB hidl HAL
class UsbHidlTest : public testing::TestWithParam<std::string> {
virtual void SetUp() override {
usb = IUsb::getService(GetParam());
ASSERT_NE(usb, nullptr);
...
}
Для каждого метода тестирования используйте макрос TEST_P
как показано в следующем примере:
TEST_P(UsbHidlTest, setCallback) {
...
}
Создайте экземпляр набора с помощью макроса INSTANTIATE_TEST_SUITE_P
, как показано в следующем примере:
INSTANTIATE_TEST_SUITE_P(
PerInstance, UsbHidlTest,
testing::ValuesIn(android::hardware::getAllHalInstanceNames(IUsb::descriptor)),
android::hardware::PrintInstanceNameToString);
Аргументы таковы:
InstantiationName
, которое может быть любым, соответствующим вашему тесту. PerInstance
— это общее имя.
Имя тестового класса.
Коллекция имен экземпляров, которые можно получить из встроенного метода, например, getAllHalInstanceNames
.
Метод для печати имени метода теста. PrintInstanceNameToString
— встроенное имя, которое можно использовать для составления имени теста на основе имени экземпляра и имени метода теста.
GTest поддерживает кортежи для тестов с параметрами значений. Когда тест HAL требует тестирования с несколькими входами (например, тест с несколькими интерфейсами), вы можете написать GTest с tuple
в качестве параметра теста. Полный код можно найти в VtsHalGraphicsMapperV2_1TargetTest
.
По сравнению с GTest с одним тестовым параметром, этот тест должен использовать tuple
в качестве тестового параметра, как показано в следующем примере:
class GraphicsMapperHidlTest
: public ::testing::TestWithParam<std::tuple<std::string, std::string>> {
protected:
void SetUp() override {
ASSERT_NO_FATAL_FAILURE(mGralloc = std::make_unique<Gralloc>(std::get<0>(GetParam()),
std::get<1>(GetParam())));
…
}
Если требуются более сложные параметры, рекомендуется использовать структуру и пользовательские функции GTest ToString
.
Для создания экземпляра тестового набора также используется макрос INSTANTIATE\_TEST\_CASE\_P
с двумя отличиями:
- Третий аргумент — это коллекция кортежей (в отличие от коллекции строк в базовом случае).
- Метод для компиляции имени теста должен поддерживать
tuple
. Вы можете использовать встроенный метод PrintInstanceTupleNameToString
, который может обрабатывать кортежи строк, как показано в следующем примере:
INSTANTIATE_TEST_CASE_P(
PerInstance, GraphicsMapperHidlTest,
testing::Combine(
testing::ValuesIn(
android::hardware::getAllHalInstanceNames(IAllocator::descriptor)),
testing::ValuesIn(android::hardware::getAllHalInstanceNames(IMapper::descriptor))),
android::hardware::PrintInstanceTupleNameToString<>);
Контент и образцы кода на этой странице предоставлены по лицензиям. Java и OpenJDK – это зарегистрированные товарные знаки корпорации Oracle и ее аффилированных лиц.
Последнее обновление: 2025-07-29 UTC.
[[["Прост для понимания","easyToUnderstand","thumb-up"],["Помог мне решить мою проблему","solvedMyProblem","thumb-up"],["Другое","otherUp","thumb-up"]],[["Отсутствует нужная мне информация","missingTheInformationINeed","thumb-down"],["Слишком сложен/слишком много шагов","tooComplicatedTooManySteps","thumb-down"],["Устарел","outOfDate","thumb-down"],["Проблема с переводом текста","translationIssue","thumb-down"],["Проблемы образцов/кода","samplesCodeIssue","thumb-down"],["Другое","otherDown","thumb-down"]],["Последнее обновление: 2025-07-29 UTC."],[],[],null,["# Parameterized GTest for HAL testing\n\nFor a HAL interface, there might be multiple implementations. To test each\ninstance for a HAL implementation, the standard way is to write\na [value-parameterized GTest](https://github.com/google/googletest/blob/main/docs/advanced.md#value-parameterized-tests).\n\nBasic test setup\n----------------\n\nThe GTest must inherit the base class `testing::TestWithParam`, of\nwhich the parameter is the name of each instance. In the\n`SetUp` method, the service can be instantiated based on the\ninstance name, as shown in the following code snippet. \n\n // The main test class for the USB hidl HAL\n class UsbHidlTest : public testing::TestWithParam\u003cstd::string\u003e {\n\n virtual void SetUp() override {\n usb = IUsb::getService(GetParam());\n ASSERT_NE(usb, nullptr);\n ...\n }\n\nFor each test method, use the macro `TEST_P` as shown in the following example: \n\n TEST_P(UsbHidlTest, setCallback) {\n ...\n }\n\nInstantiate the suite with\nmacro `INSTANTIATE_TEST_SUITE_P`, as shown in the following example: \n\n INSTANTIATE_TEST_SUITE_P(\n PerInstance, UsbHidlTest,\n testing::ValuesIn(android::hardware::getAllHalInstanceNames(IUsb::descriptor)),\n android::hardware::PrintInstanceNameToString);\n\nThe arguments are:\n\n1. `InstantiationName`, which can be anything that\n matches your test. `PerInstance` is a common name.\n\n2. The test class name.\n\n3. A collection of instance names, which can\n be retrieved from the built-in method, for example,\n `getAllHalInstanceNames`.\n\n4. The method to print the test method name.\n `PrintInstanceNameToString` is a built-in name you can use to\n compile a test name based on the instance name and test method name.\n\nTest with multiple inputs\n-------------------------\n\nGTest supports tuples for value-parameterized tests. When a\nHAL test requires testing with multiple inputs (for example, a test with\nmultiple interfaces), you can write a GTest with `tuple` as the\ntest parameter. The complete\ncode can be found in [`VtsHalGraphicsMapperV2_1TargetTest`](https://cs.android.com/android/platform/superproject/+/android-latest-release:hardware/interfaces/graphics/mapper/2.1/vts/functional/VtsHalGraphicsMapperV2_1TargetTest.cpp).\n\nCompared to the GTest with a single test parameter, this test needs to use\n`tuple` as the test parameter as shown in the following example: \n\n class GraphicsMapperHidlTest\n : public ::testing::TestWithParam\u003cstd::tuple\u003cstd::string, std::string\u003e\u003e {\n protected:\n void SetUp() override {\n ASSERT_NO_FATAL_FAILURE(mGralloc = std::make_unique\u003cGralloc\u003e(std::get\u003c0\u003e(GetParam()),\n std::get\u003c1\u003e(GetParam())));\n ...\n }\n\nIf more complicated parameters are needed, it's recommended to use a\nstructure and custom GTest `ToString` functions.\n\nTo instantiate the test suite, the macro `INSTANTIATE\\_TEST\\_CASE\\_P` is also\nused, with two differences:\n\n- The third argument is a collection of tuples (versus a collection of strings in the basic case).\n- The method to compile a test name needs to support `tuple`. You can use the built-in method `PrintInstanceTupleNameToString`, which can handle tuples of strings, as shown in the following example:\n\n INSTANTIATE_TEST_CASE_P(\n PerInstance, GraphicsMapperHidlTest,\n testing::Combine(\n testing::ValuesIn(\n android::hardware::getAllHalInstanceNames(IAllocator::descriptor)),\n testing::ValuesIn(android::hardware::getAllHalInstanceNames(IMapper::descriptor))),\n android::hardware::PrintInstanceTupleNameToString\u003c\u003e);"]]