對於 HAL 接口,可能有多種實作。要測試 HAL 實作的每個實例,標準方法是編寫值參數化的 gtest 。
基本測試設定
gtest必須繼承基底類別testing::TestWithParam
,其中參數是每個實例的名稱。在SetUp
方法中,可以根據實例名稱實例化服務,如下列程式碼片段所示。
// The main test class for the USB hidl HAL
class UsbHidlTest : public testing::TestWithParam<std::string> {
virtual void SetUp() override {
usb = IUsb::getService(GetParam());
ASSERT_NE(usb, nullptr);
...
}
對於每種測試方法,請使用巨集TEST_P
如下例所示。
TEST_P(UsbHidlTest, setCallback) {
...
}
使用巨集INSTANTIATE_TEST_SUITE_P
實例化套件,如下例所示。
INSTANTIATE_TEST_SUITE_P(
PerInstance, UsbHidlTest,
testing::ValuesIn(android::hardware::getAllHalInstanceNames(IUsb::descriptor)),
android::hardware::PrintInstanceNameToString);
論點是:
InstantiationName
,可以是與您的測試相符的任何內容。PerInstance
是一個通用名稱。測試類別名稱。
實例名稱的集合,可以從內建方法檢索,例如
getAllHalInstanceNames
。列印測試方法名稱的方法。
PrintInstanceNameToString
是內建名稱,您可以使用它根據實例名稱和測試方法名稱編譯測試名稱。
使用多個輸入進行測試
gtest 支援元組進行值參數化測試。當 HAL 測試需要使用多個輸入進行測試時(例如,使用多個介面進行測試),您可以編寫以tuple
作為測試參數的 gtest。完整的程式碼可以在VtsHalGraphicsMapperV2_1TargetTest
中找到。
與單一測試參數的gtest相比,此測試需要使用tuple
作為測試參數,如下例所示。
class GraphicsMapperHidlTest
: public ::testing::TestWithParam<std::tuple<std::string, std::string>> {
protected:
void SetUp() override {
ASSERT_NO_FATAL_FAILURE(mGralloc = std::make_unique<Gralloc>(std::get<0>(GetParam()),
std::get<1>(GetParam())));
…
}
如果需要更複雜的參數,建議使用結構體和自訂 gtest ToString
函數。
為了實例化測試套件,也使用巨集INSTANTIATE\_TEST\_CASE\_P
,但有兩個差異:
- 第三個參數是元組的集合(相對於基本情況中的字串集合)。
- 編譯測試名稱的方法需要支援
tuple
。您可以使用內建方法PrintInstanceTupleNameToString
,它可以處理字串元組,如下例所示。
INSTANTIATE_TEST_CASE_P(
PerInstance, GraphicsMapperHidlTest,
testing::Combine(
testing::ValuesIn(
android::hardware::getAllHalInstanceNames(IAllocator::descriptor)),
testing::ValuesIn(android::hardware::getAllHalInstanceNames(IMapper::descriptor))),
android::hardware::PrintInstanceTupleNameToString<>);