HAL 介面可能會有多種實作方式。如要測試 HAL 實作的每個例項，標準做法是編寫值參數化 GTest。
基本測試設定
GTest 必須繼承基礎類別 testing::TestWithParam，其中參數是每個例項的名稱。在 SetUp 方法中，您可以根據執行個體名稱例項化服務，如以下程式碼片段所示。
// The main test class for the USB hidl HAL
class UsbHidlTest : public testing::TestWithParam<std::string> {
virtual void SetUp() override {
usb = IUsb::getService(GetParam());
ASSERT_NE(usb, nullptr);
...
}
針對每個測試方法使用 TEST_P 巨集，如以下範例所示：
TEST_P(UsbHidlTest, setCallback) {
...
}
使用巨集 INSTANTIATE_TEST_SUITE_P 例項化套件，如以下範例所示：
INSTANTIATE_TEST_SUITE_P(
PerInstance, UsbHidlTest,
testing::ValuesIn(android::hardware::getAllHalInstanceNames(IUsb::descriptor)),
android::hardware::PrintInstanceNameToString);
引數如下：
InstantiationName，可以是任何符合測試的項目。PerInstance是慣用名。測試類別名稱。
執行個體名稱集合，可從內建方法 (例如
getAllHalInstanceNames) 擷取。用於列印測試方法名稱的方法。
PrintInstanceNameToString是內建名稱，可讓您根據執行個體名稱和測試方法名稱編譯測試名稱。
使用多個輸入內容進行測試
GTest 支援值參數化測試的元組。如果 HAL 測試需要使用多個輸入內容進行測試 (例如，使用多個介面的測試)，您可以使用 tuple 做為測試參數，編寫 GTest。您可以在 VtsHalGraphicsMapperV2_1TargetTest 中找到完整的程式碼。
與只有單一測試參數的 GTest 相比，此測試需要使用 tuple 做為測試參數，如以下範例所示：
class GraphicsMapperHidlTest
: public ::testing::TestWithParam<std::tuple<std::string, std::string>> {
protected:
void SetUp() override {
ASSERT_NO_FATAL_FAILURE(mGralloc = std::make_unique<Gralloc>(std::get<0>(GetParam()),
std::get<1>(GetParam())));
…
}
如果您需要更複雜的參數，建議使用結構和自訂 GTest ToString 函式。
為了將測試套件例項化，系統也會使用 INSTANTIATE\_TEST\_CASE\_P 巨集，但有以下兩個差異：
- 第三個引數是元組的集合 (與基本案例中是字串集合)。
- 編譯測試名稱的方法必須支援
tuple。您可以使用內建方法PrintInstanceTupleNameToString，該方法可處理字串元組，如以下範例所示：
INSTANTIATE_TEST_CASE_P(
PerInstance, GraphicsMapperHidlTest,
testing::Combine(
testing::ValuesIn(
android::hardware::getAllHalInstanceNames(IAllocator::descriptor)),
testing::ValuesIn(android::hardware::getAllHalInstanceNames(IMapper::descriptor))),
android::hardware::PrintInstanceTupleNameToString<>);