收集失敗時自動記錄
透過集合功能整理內容
你可以依據偏好儲存及分類內容。
在偵錯測試時,您一律需要一組記錄,才能取得失敗和測試裝置的基本資訊。來源包括:Logcat、Tradefed 主機記錄、螢幕截圖等。
為了讓任何測試編寫人員都能輕鬆取得這些記錄,Tradefed 內建了可協助收集記錄的機制。
設定
如要自動收集失敗時的部分記錄,您可以將下列選項加入 Tradefed 指令列:
--auto-collect LOGCAT_ON_FAILURE
or
--auto-collect SCREENSHOT_ON_FAILURE
如要查看可能值的完整清單,請查看 AutoLogCollector
為方便起見,Logcat 和螢幕截圖各有一個直接標記:
--logcat-on-failure
and
--screenshot-on-failure
套件模組 (AndroidTest.xml) 注意事項
模組無法直接在 AndroidTest.xml
中指定此選項,但可以改用模組控制器。
這個頁面中的內容和程式碼範例均受《內容授權》中的授權所規範。Java 與 OpenJDK 是 Oracle 和/或其關係企業的商標或註冊商標。
上次更新時間:2024-11-09 (世界標準時間)。
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